第一章 绪论
1.1 Sb基化合物半导体材料特性及生长技术
1.2 InAs/A1Sb异质结材料优势
1.3 InAs/A1Sb HEMT器件的研究进展
1.4 本书研究内容和安排
第二章 HEMT器件基础理论
2.1 半导体异质结
2.2 调制掺杂和2DEG
2.2.1 调制掺杂
2.2.2 二维电子气量子化
2.2.3 势阱中的二维电子气面密度
2.3 金属半导体界面
2.3.1 欧姆接触
2.3.2 肖特基接触
2.3.3 费米能级钉扎效应
2.4 InAs/A1Sb HEMT器件工作原理
2.4.1 HEMT器件直流特性
2.4.2 HEMT器件交流特性
2.5 HEMT器件中容易出现的问题
2.6 本章小结
第三章 InAs/AISb HEMT器件二维物理仿真
3.1 器件物理模型
3.1.1 流体动力学模型
3.1.2 电场迁移率模型
3.1.3 (肖特基)电子隧穿模型
3.1.4 碰撞离化模型
3.2 单δ掺杂和双δ掺杂外延结构的器件性能比较
3.2.1 外延结构和器件模型构建
3.2.2 掺杂对器件性能的影响
3.3 碰撞离化对器件性能的影响
3.4 HEMT器件低温特性研究
3.4.1 器件模型设定
3.4.2 温度变化对器件性能影响
3.5 本章小结
第四章 InAs/AISb HEMT器件外延材料的生长
4.1 晶格匹配材料和赝配材料
4.2 分子束外延生长MBE
4.3 InAs/A1Sb HEMT器件的外延结构设计
4.4 InAs/AlSb HEMT外延材料生长
4.4.1 InSb界面和A1Sb界面
4.4.2 InAs/A1Sb HEMT器件材料生长
4.5 InAs/A1Sb HEMT器件外延结构的表征
4.5.1 Hall(霍尔)测试
4.5.2 AFM测试
4.5.3 XRD测试
4.6 本章小结
第五章 InAs/AISb HEMT器件制作
5.1 InAs/A1Sb HEMT器件制造流程图
5.2 欧姆接触
5.2.1 源漏寄生电阻对HEMT器件的影响
5.2.2 TLM模型
5.2.3 合金
5.2.4 非合金
5.3 台面隔离
5.3.1 湿法台面隔离
5.3.2 干法台面隔离
5.4 肖特基接触
5.4.1 栅槽形成
5.4.2 淀积金属
5.5 InAs/A1Sb HEMT性能测试
5.6 本章小结
第六章 总结与展望
6.1 总结
6.2 展望
参考文献
后记
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