《【自营】航天集成电路测试技术 航天科技图书出版基金资助出版》由中国航天电子技术研究院组织编写，首先从宏观层面阐述了集成电路测试的基础分类和发展现状，进而深入分析了在技术推动、需求牵引双轮驱动下集成电路测试的发展，再从微观层面将航天集成电路测试方法分门别类，结合大量宝贵实例，对其进行了全面阐述。
　　《【自营】航天集成电路测试技术 航天科技图书出版基金资助出版》旨在系统固化多年来航天集成电路测试的技术经验与成果，推动其规范发展，提升测试人员实操水平与工作效率，完善航天集成电路人才培育体系。

第1章 集成电路测试概论
1.1 概述
1.2 基础分类
1.3 发展现状

第2章 集成电路测试技术
2.1 概述
2.1.1 基础术语
2.1.2 测试系统
2.1.3 精密测量单元
2.1.4 引脚电路
2.1.5 测试开发基本规则
2.2 功能测试
2.2.1 测试向量转换和测试向量
2.2.2 测试周期和输入信号
2.2.3 输出信号
2.3 基本参数测试
2.3.1 直流参数测试
2.3.2 交流参数测试
2.4 集成电路测试故障模型
2.4.1 故障模型的概念
2.4.2 常规故障模型
2.5 可测性设计

第3章 航天集成电路测试需求
3.1 概述
3.2 集成电路单粒子效应测试
3.2.1 单粒子效应测试概述
3.2.2 单粒子测试考核指标
3.2.3 单粒子测试系统
3.2.4 单粒子测试标准规范
3.2.5 单粒子测试关键因素
3.3 集成电路总剂量效应测试
3.3.1 总剂量测试概述
3.3.2 总剂量测试考核指标
3.3.3 总剂量测试系统
3.3.4 总剂量测试标准规范
3.3.5 总剂量测试关键因素
3.4 静电放电测试
3.4.1 损伤类型
3.4.2ESD测试
3.4.3 实践中静电防护及管理措施
3.5 闩锁试验测试
3.5.1 闩锁效应产生原理
3.5.2 闩锁测试分析
3.5.3 CMOS电路中抗闩锁的方法
3.6 极限试验测试
……
第4章 集成电路测试方法及实例
第5章 混合集成电路测试方法及实例
第6章 集成电路自动测试系统
参考文献