李琰
李琰(Yan Li)博士是英特尔公司位于美国亚利桑那州钱德勒“组装测试与技术开发失效分析实验室”的高级主任研究员。她在北京大学获得物理学学士和硕士学位,并于2006年获得美国西北大学材料科学与工程博士学位。作为英特尔三维封装技术开发项目的首席封装失效分析工程师,李博士参与了英特尔众多封装相关的技术解决方案,并专注于电子封装的质量和可靠性,对失效模式和失效机理有深入的研究,开发了用于三维封装故障隔离和失效分析的新工具及技术。李博士是矿物金属和材料学会(TMS)、美国金属学会(AMS)和电子器件失效分析协会(EDFAS)等多个国际专业学会的资深会员及撰稿人。自2011年以来李博士担任了TMS、测试与失效分析国际会议(ISTFA)的年会组织者。李博士2018年进入集成电路物理与失效分析国际会议技术委员会(IPFA),她还获得了2014年TMS EMPMD青年领袖专业发展奖。李博士在微电子封装领域发表了20余篇论文及多项专利,并联合编撰了受到业界高度认可的著作《3D Microelectronic Packaging》。
迪帕克?戈亚尔
迪帕克?戈亚尔(Deepak Goyal)博士目前是英特尔ATTD/ATM封装FA和LYA实验室的主任,毕业于纽约州立大学石溪分校并获得材料科学与工程博士学位。他负责为英特尔下一代微电子封装开发新的分析工具,缺陷表征,故障隔离,失效和材料分析技术。协助开发了英特尔整套封装技术,包括FCxGA,FCCSP,TSV,EMIB和Foveros等等。他作为失效分析方面的专家,在国际电子元件与技术会议(ECTC)上教授了有关封装FA/FI方法及失效机理的专业课程。他曾获得了两项英特尔成就奖和25项部门奖。Goyal博士已撰写或合著了50多篇论文,并拥有11项美国专利。他是IEEE的高级会员,曾担任由半导体制造技术战略联盟(Sematech)举办的封装与互连故障分析论坛主席,以及ECTC应用可靠性委员会主席。
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